波長色散型X射線熒光光譜儀可以分為掃描型和固定型兩種。本文主要介紹掃描型儀器的結構，由光源、濾光片、視野光闌、分光晶體/測角儀、探測器、自動進樣系統、計算機軟件以及配套的冷卻循環系統和真空系統這幾部分組成。簡單的結構示意圖如下：1）光源波長色散型X射線熒光光譜儀光源主要由高壓發生器和X射線管兩部分組成。高壓發生器主要是為X光管提供相應的電壓和電流。目前主要采用高頻固態的技術，輸出穩定性大幅度提高?？偣β室话銥?KW。高壓發生器X光管即發射初級X射線裝置，功率一般為3KW（或4...

X光管是波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）核心的部件之一，其性能很大程度影響了整個儀器的最終性能。影響光管的性能的主要參數有功率，電壓，電流，鈹窗膜厚度，陽極靶材，陰極燈絲等。圖1，為光管的結構示意圖，在高壓下，電子從燈絲表面逸出，在電場作用下，打到陽極靶材上，激發出初級X射線，在這個過程中，電子動能99%轉化成熱能，所以需要不斷對光管進行冷卻。X光管結構示意圖市面上WD-XRF的X光管有不同功率的型號。目前，大型的WD-XRF最常見的一般以3KW（或4KW）為主，也...

X射線熒光光譜儀的分類市面上主要的X射線熒光光譜儀分為兩大類：波長色散型X射線熒光光譜儀和能量色散型X熒光光譜儀。兩者最大的區別在于對次級X射線（元素的特征譜線）分辨特征。波長色散型X射線熒光光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射。能量色散型X熒光光譜儀用探測器產生的電壓脈沖和多道分析器來分辨樣品中的特征射線。波長色散型X熒光光譜儀按照測角儀是否轉動可分為掃描型和同時型兩種。分析元素范圍都是從Be~U，最大功率都是4KW。掃描型（圖2）即通過改變分光晶體和探測器的角度...

X射線是類似可見光的一種電磁波（圖1），被廣泛應用于各種領域，比如X探傷，晶體學，元素成分分析等等。圖1光譜圖X射線最早是由德國物理學家倫琴發現的，最早是用于醫學影像檢測。后來，經過對X射線不斷研究，英國物理學家巴克拉發現當X射線照射某元素時，會發出一條與之對應的特征譜線，并以此建立了X射線光譜學。這一發現促進了X射線熒光光譜儀的誕生。經過多年的發展，X射線熒光光譜儀作為一種快速、無損的成份檢測儀器，被廣泛應用生產檢測當中。X射線熒光光譜儀基本原理：X射線管產生的X射線(初級...

波長色散型X射線熒光光譜儀是根據X射線衍射原理，采用分光晶體為色散件，以布拉格定律為基礎，對不同波長特征譜線進行分光，然后進行探測。波長色散X射線熒光光譜儀具有分辨率好、靈敏度高的優點，可用于固體、粉末或液體物質的元素分析，廣泛應用在地質、冶金、文物、生物、活體、環境、健康、大氣顆粒物等諸多領域。波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀的區別雖然波長色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（WD-XRF）X射線熒光光譜儀同屬X射線熒光分析儀，它們產生信...

差示掃描量熱儀（簡稱DSC）是一種熱分析儀器，它依據差示掃描量熱分析原理，給物質提供一個勻速升溫、勻速降溫、恒溫、或以上任意組合溫度環境及恒定流量（或流量為零）的氣氛環境，并在此環境下測量樣品與參比端的熱流差或熱功率差隨溫度及時間的關系。差示掃描量熱儀主要由溫度控制模塊、數據采集模塊和樣品池等組成。溫度控制模塊負責提供穩定的溫度環境，包括加熱器和冷卻器。數據采集模塊負責測量熱流差異，包括熱電偶和放大器。樣品池是放置樣品和參考物的容器，通常由導熱性良好的材料制成。使用的注意事項...

引言：在現代科學研究中，對于微觀結構的觀察和分析具有重要意義。而蔡司鎢燈絲掃描電鏡作為一種顯微鏡技術，能夠以高分辨率和放大倍數顯示物質表面的細節，較大地拓展了我們對于微觀世界的認知。本文將介紹原理、應用領域以及其在科學研究中所起到的作用。一、蔡司鎢燈絲掃描電鏡的原理1.電子束發射：該設備使用鎢作為發射源，在高溫條件下使其產生自由電子發射現象。2.透鏡系統：透過聚焦與定位控制來實現對電子束進行成像。3.掃描線圈：利用調節陽極排列方式，使得光束能夠沿樣品表面進行掃描，并獲取圖像信...

絕緣電阻測試儀是一種專門用于測量絕緣電阻的儀器，它可以通過在被測試物體上施加高電壓并檢測漏電電流來測量絕緣電阻，具有精度高、速度快、自動化程度高等優點。測量絕緣電阻是一項重要的電氣安全檢測工作，它可以確保電路或設備的絕緣性能良好，避免漏電或短路等危險情況發生。絕緣電阻測試步驟：1.試驗前先檢查安全措施，被試品電源及一切對外連線應拆除。被試品接地放電，大容量設備至少放電5min。勿用手直接接觸放電導線。2.據表面臟污及潮濕情況決定是否采取表面屏蔽或需要烘干及清擦干凈表面臟污，以...